低對比度測試模體也叫分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。是由黑色和白色的線組成，頻率不一，分布在不同的水平和垂直方向。

 

　　低對比度測試模體基材為PMMA，非銅材或鋁材（銅材或鋁材對X射線吸收太強，影響圖像成像質量），其次重量輕便于攜帶。照射野與光野一致性檢測尺寸全，測試模體內包含空間分辨力測試、靈敏度線性測試、IP板偽影殘影擦洗測試、灰度階梯等級測試、邊界及中心影像均勻性測試。

 

　　下面咱們來了解下低對比度測試模體的使用方法：

 

　　1、首先就需要確定好模體標版的材料、尺寸、倍數。

 

　　2、安裝測試卡。一般講測試卡安裝在平滑墻面上，固定好測試卡即可使用。

 

　　3、然后根據測試卡的尺寸來確定拍攝距離。原則上應該選擇能讓有效高度正好充滿畫面的測試卡。

 

　　在選取拍攝范圍時應注意：

 

　　1、測試卡有效高度充滿畫面時，測試卡的4:3區域也應該正好充滿畫面。在取景偏大或偏小的情況下，應盡量使4:3區域中的J1、K1、J2、K2、JD、KD處于畫面中心。

 

　　2、測試四角分辨率時，要分別將四角上的十字型測試單元置于畫面角落。實際操作可以將低對比度分辨力檢測模體16:9端線貼在畫面外框，測量這一端上下兩個角的分辨率，再測另一側兩個角的分辨率。

 

　　3、鏡頭設置

 

　　鏡頭設置包括曝光時間、白平衡、亮度、色彩、Gamma校正、拍攝模式攝像鏡頭在進行測試時，需要選擇預設定的模式，采用默認的設置拍攝即可。若果在特殊效果下拍攝測試，就需要給出說明。